通信用光電子器件熱沖擊試驗
健明迪檢測提供的通信用光電子器件熱沖擊試驗，通信用光電子器件熱沖擊試驗 試驗范圍 1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機、光接收機和光中繼器的關(guān)鍵器件，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
通信用光電子器件熱沖擊試驗 試驗范圍
1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機、光接收機和光中繼器的關(guān)鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。
通信用光電子器件熱沖擊試驗 試驗標準
GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 42259-2022 金屬及其他無機覆蓋層 熱障涂層耐熱循環(huán)與熱沖擊性能測試方法
EN 60749-6-2002 半導(dǎo)體器件 機械和氣候試驗方法 第6部分：高溫儲存
GB/T 4937.23 半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法 第23部分：高溫工作壽命
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 42259-2022 金屬及其他無機覆蓋層 熱障涂層耐熱循環(huán)與熱沖擊性能測試方法
EN 60749-6-2002 半導(dǎo)體器件 機械和氣候試驗方法 第6部分：高溫儲存
GB/T 4937.23 半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法 第23部分：高溫工作壽命
通信用光電子器件熱沖擊試驗 試驗背景
沖擊測試是用于考核產(chǎn)品對周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是裝備設(shè)計定型的鑒定試驗和批產(chǎn)階段的例行試驗中不可缺少的試驗，在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗。通信用光電子器件熱沖擊試驗可確定密封光電子器件在遭受到溫度劇變時的抵抗能力和產(chǎn)生的影響。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的熱沖擊試驗服務(wù)。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的熱沖擊試驗服務(wù)。
通信用光電子器件熱沖擊試驗 試驗方法
按以下程序進行試驗：
a）試驗前對試樣的主要光電特性進行測試。
b）將試樣放于試驗槽中，液體在試樣周圍的流動不應(yīng)受到阻礙。
c）試樣放在高溫中保持5 min后，再將試樣放入低溫中保持5 min ；
試樣應(yīng)在2 min內(nèi)達到規(guī)定的溫度﹔從高溫到低溫，或從低溫到高溫的轉(zhuǎn)換時間不得超過10s。
d）按照c）步驟進行15次循環(huán)。
a）試驗前對試樣的主要光電特性進行測試。
b）將試樣放于試驗槽中，液體在試樣周圍的流動不應(yīng)受到阻礙。
c）試樣放在高溫中保持5 min后，再將試樣放入低溫中保持5 min ；
試樣應(yīng)在2 min內(nèi)達到規(guī)定的溫度﹔從高溫到低溫，或從低溫到高溫的轉(zhuǎn)換時間不得超過10s。
d）按照c）步驟進行15次循環(huán)。
